Ceramics-Silikáty 26, (1) 63 - 66 (1982) |
|
ANALÝZA POVRCHU ODLITKŮ Z TAVENÉHO ČEDIČE METODOU SIMS
|
Hedbávný Pavel 1, Rychlý Rudolf 2
|
1 TESLA – Vakuová technika, Jenerálka 54, 164 00 Praha 6
2 Státní výzkumný ústav sklářský, 501 92 Hradec Králové
|
Pomoci hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů při použití primárního svazku iontů Ar+ a neutralizaci povrchového náboje proudem elektronů z termoemisní elektronové trysky byly analyzovány dva barevně odlišné skelné povrchy čedičové dlaždice. Spektra sekundárních iontů byla sledována během iontového rozprašování vzorků až do hloubky 4 μm, kdy prakticky zmizely rozdíly v chemickém
složení obou analyzovaných vrstev. Metoda SIMS byla doplněna stanovením obsahu železa mikroanalýzou v rastrovacím elektronovém mikroskopu. |
 PDF (0.9 MB) |
|
