Ceramics-Silikáty 14, (1) 75 - 84 (1970) |
|
METODIKA MĚŘENÍ POVRCHOVÉHO NAPĚTÍ SKLOVIN
|
Šašek Ladislav, Kasa Stanislav
|
Katedra technologie silikátů VŠCHT, Praha
|
V předložené práci je popsána metodika a přístroj na měření povrchového napětí sklovin za vysokých teplot. Na binární sklovině Na₂O.4SiO₂ je provedeno porovnání reprodukovatelnosti metody a možnost určení měrné hmotnosti měřené skloviny. |
 PDF (1.0 MB) |
|
