ISSN 0862-5468 (Print), ISSN 1804-5847 (online) 

Ceramics-Silikáty 17, (4) 349 - 354 (1973)


KVANTITATIVNÍ RENTGENOVÁ MIKROANALÝZA SILIKÁTŮ II

Použití korekčních vzorců při výpočtu složení


 
Jurek Karel 1, Škvára František 2
 
1 Geologický ústav ČSA V, Praha 6 - Suchdol
2 Společná laboratoř pro chemii a technologii silikátů, ČSAV a VŠCHT Praha 6, Suchbátarova 1905

V článku je popsán nejobvyklejší postup při výpočtu složení silikátových vzorků analyzovaných elektronovou mikrosondou pomocí korekčního iteračního postupu a podán rozbor vlivu jednotlivých korekcí na výsledek analýzy. Pro výpočet složení byl sestaven program v jazyce Fortran speciálně upravený pro analýzu silikátů. Program zahrnuje nejdůležitější fyzikální korekční vztahy mezi koncentrací a intenzitou emitovaného rtg. záření (vyjma korekce na fluorescenci spojitým zářením). Konstanty nezbytné k výpočtu jsou v programu fixovány nebo jsou vypočítávány. Množství vstupních dat je tím redukováno na minimum.

 
Licence Creative Commons © 2015 - 2025
Institute of Rock Structure and Mechanics of the CAS & University of Chemistry and Technology, Prague
Webmaster | Journal Contact