Ceramics-Silikáty 17, (4) 349 - 354 (1973) |
|
KVANTITATIVNÍ RENTGENOVÁ MIKROANALÝZA SILIKÁTŮ II
Použití korekčních vzorců při výpočtu složení
|
Jurek Karel 1, Škvára František 2 |
1 Geologický ústav ČSA V, Praha 6 - Suchdol
2 Společná laboratoř pro chemii a technologii silikátů, ČSAV a VŠCHT Praha 6, Suchbátarova 1905
|
V článku je popsán nejobvyklejší postup při výpočtu složení silikátových vzorků analyzovaných elektronovou mikrosondou pomocí korekčního iteračního postupu a podán rozbor vlivu jednotlivých korekcí na výsledek analýzy. Pro výpočet složení byl sestaven program v jazyce Fortran speciálně upravený pro analýzu silikátů. Program zahrnuje nejdůležitější fyzikální korekční vztahy mezi koncentrací a intenzitou emitovaného rtg. záření (vyjma korekce na fluorescenci spojitým zářením). Konstanty nezbytné k výpočtu jsou v programu fixovány nebo jsou vypočítávány. Množství vstupních dat je tím redukováno na minimum. |
|