Ceramics-Silikáty 28, (3) 249 - 260 (1984) |
|
RENTGENOSPEKTRÁLNÍ ANALÝZA SILIKÁTŮ NA TENKÝCH VRSTVÁCH
|
Ersepke Zdeněk, Jahodová Aloisie, Krajíčková Marie,
Švardalová Bohumila
|
Výzkumný a zkušební ústav, Nová huť K. G. n. p., 707 02 Ostrava
|
Popsaná expresní metoda dosahuje spolehlivých výsledků u homogenních materiálů, u nichž všechna zrna mají totéž složení. Splnění této podmínky lze snadno testovat na základě hodnot poměrných intenzit jednotlivých prvků na tenké/tlusté vrstvě a jejich závislosti na vlnové délce. Metoda je vhodná pro
analýzu skla, keramiky, strusek, popelů, minerálů i práškových slitin. Snadno ji lze využít pro kontinuální analýzu a řízení technologie. |
 PDF (1.2 MB) |
|
