Ceramics-Silikáty 25, (3) 277 - 280 (1981) |
|
METÓDA VÝPOČTU OPTICKÝCH A DIELEKTRICKÝCH KONŠTÁNT Z MERANIA ABSOLÚTNEJ SPEKULÁRNEJ ODRAZIVOSTI POVRCHU TUHÝCH LÁTOK
|
Šiška Ľubomír 1, Pisárčik Miloslav 2, Ostatník Peter 3
|
1 Katedra fyziky, Elektrotechnická fakulta SVŠT, 819 00 Bratislava, Gottwaldovo nám. 19
2 Ústav anorganickej chémie SAV, 809 34 Bratislava, Dúbravská cesta 5
3 Datasystém, 829 00 Bratislava, Jána Osohu 15
|
Navrhuje sa metóda pre výpočet základných optických a dielektrických konštánt získaných z meraní absolútnej spekulárnej odrazivosti povrchov tuhých látok. Z nameraných údajov odrazivosti sa pomocou Kramersových-Kronigových integrálov vypočítavajú spektrálne priebehy zložiek komplexnej dielektrickej
konštanty, komplexného indexu lomu, absorpčný koeficient a efektívna dielektrická konštanta.
|
 PDF (0.4 MB) |
|
